產品中心
Product Center
熱門搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數試驗測試儀
GDW-250電阻高溫度特性測試試驗臺
NLD-AI全自動高壓漏電起痕試驗 漏電測試儀
GEST-121體積表面電阻測定儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測量儀
GCSTD-FI液體高低介電常數及介質損耗測試儀
PMQS-I新款國產泡沫起升儀PMQS
FTDZ-I粉末電阻率測試儀
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強度試驗儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗機
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數測試儀
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測試儀
當前位置：首頁
產品中心電阻率測試儀多功能極片電阻測量系統GCJPD-I極片表面電阻測量系統
極片表面電阻測量系統
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 冠測儀器 | 產地 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
極片表面電阻測量系統
GCJPD-I
產品概述：
極片表面電阻測量系統-電池極片中，影響電導率的主要因素包括箔基材與涂層的結合界面情況，導電劑分布狀態，顆粒之間的接觸狀態等；通過電池極片的電導率能夠判斷極片電阻中微觀結構的均勻性，預測電池的性能。同時鋰離子電池極片電阻是影響電池內阻、電壓以及自動放電率的重要因素。
目前測試極片電阻的方法有四探針法和兩探針法，四探針法和兩探針法都無法對被測物體表面施加壓力，且極片的表面涂層由顆粒組成，與探針的接觸面積小，只測量了電阻兩端的電壓值和電流值，故探針無法全面表征極片電阻。
無論是四探針法還是兩探針法都只能表征表面薄層的電阻（即只能用于測量被測物表面的薄層電阻），對于較厚且存在成分梯度電池涂層無法全面表征極片的電阻值，另外，它也不能測試真實極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測試法僅測量非導電基材極片，且與測試極片接觸點面積小，極片顆粒大，數據無參考意義。
本公司所研發可以對電池極片施加可變壓力，可對壓力值、極片電阻值和厚度變化值進行即時測量，并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關系
通過對極片施加不同壓強，可以使極片表面的涂層顆粒產生不同程度的形變，從而改變極片的導電性能。通過測量數據可以分析不同壓強下極片的阻值特性，從而對改良極片提供數據參考。
本儀器測試極片電阻阻值時，電流從極片電阻的端面穿過，使得對極片電阻電阻測量更加精確。
上一個：
返回列表
